科目名[英文名]
無機機器分析   [Inorganic Spectrometric Analysis]
区分 工学部専門科目等  選択必修   単位数 2 
対象学科等   対象年次 34  開講時期 前学期 
授業形態 前学期  時間割番号 023214
責任教員 [ローマ字表記]
村上 尚   [MURAKAMI Hisashi]
所属 工学部 研究室   メールアドレス

概要
a.目的 この講義の目標は、無機化学の分野で使用される代表的な機器分析法の理論と原理、分析方法を学ぶことである。
b.概要 化学の発展につれてより高度な化学分析が必要となり,現代化学の幅広い場面で各種の機器分析法が多用されている。本講義では、X線回折、電子顕微鏡、光学的分析法などの機器分析の概略について学ぶ。
到達基準
授業内容
第1回 ガイダンス
第2回 X線回折法(1):X線の発生原理、基本的性質を理解する。
第3回 X線回折法(2):結晶の周期性とX線回折の原理を理解する。
第4回 X線回折法(3):薄膜X線回折、粉末X線回折などの解析法の実際を学ぶ。
第5回 電子顕微鏡(1):様々なプローブを用いた表面観察手法について学ぶ。
第6回 電子顕微鏡(2):走査型電子顕微鏡および透過電子顕微鏡の原理・装置構成について学ぶ。
第7回 電子顕微鏡(3):電子顕微鏡を用いた様々な分析手法について学ぶ。
第8回 走査プローブ顕微鏡:AFM,STM,SNOM等の走査プローブ顕微鏡について学ぶ。
第9回 演習1
第10回 分光分析(1):電磁波と物質の相互作用について学ぶ。
第11回 分光分析(2):ランバートベールの法則、紫外可視スペクトルと吸光光度法について学ぶ。
第12回 分光分析(3):赤外吸収とラマン分光分析について学ぶ。
第13回 分光分析(4):フォトルミネッセンス、カソードルミネッセンス、光吸収測定、エリプソメトリー等の固体物性の測定手法について学ぶ。
第14回 分光分析(5):その他、最近のトピックスを含め紹介する。
第15回 演習2
履修条件・関連項目
なし
テキスト・教科書
なし
参考書
本講義は無機機器分析の広い範囲にわたるため、講義時間中に紹介する。
成績評価の方法
演習の成績および修学態度で評価する。
教員から一言
機器分析化学は、現代の科学産業を支えている非常に大切な学問である。特に化学関連の企業等に就職した場合には最も身近に装置を触れる機会も多い。3年生までの化学の知識のみならず、物理の知識が重要である。
キーワード
X線回折、電子顕微鏡、分光分析法、機器分析
オフィスアワー
月曜日10:00〜15:00
備考1
備考2
参照ホームページ
開講言語
語学学習科目
更新日付
2018/03/26 10:24:09