科目名[英文名]
無機機器分析   [Inorganic Spectrometric Analysis]
区分	工学部専門科目等	選択必修		単位数	2
対象学科等		対象年次	3～4	開講時期	1学期
授業形態	1学期	時間割番号	023214
責任教員 [ローマ字表記]
村上 尚   [MURAKAMI Hisashi]
所属	工学部	研究室		メールアドレス

概要

[目的]　この講義の目標は、無機化学の分野で使用される代表的な機器分析法の理論と原理、分析方法を学ぶことである。 [概要]　化学の発展につれてより高度な化学分析が必要となり，現代化学の幅広い場面で各種の機器分析法が多用されている。本講義では、X線回折、電子顕微鏡、光学的分析法などの機器分析の概略について学ぶ。

到達基準

(1) X線発生原理、薄膜X線回折、粉末X線回折による結晶構造の同定を体系的に理解している。 (2) 電子顕微鏡、走査プローブ顕微鏡を用いた表面分析、元素分析、発光分析について、その原理から応用に対しての知識を習得している。 (3) 分光分析法について、電磁波と物質の相互作用の理解ができていること。また、光を用いた分析手法全般を体系的に理解している。 本科目のディプロマ・ポリシーの観点： 履修案内のカリキュラムマップを参照してください。

授業内容

第１回　ガイダンス 第２回　X線回折法(1)：X線の発生原理、基本的性質を理解する。 第３回　X線回折法(2)：結晶の周期性とX線回折の原理を理解する。 第４回　X線回折法(3)：薄膜X線回折、粉末X線回折などの解析法の実際を学ぶ。 第５回　電子顕微鏡(1)：様々なプローブを用いた表面観察手法について学ぶ。 第６回　電子顕微鏡(2)：走査型電子顕微鏡および透過電子顕微鏡の原理・装置構成について学ぶ。 第７回　電子顕微鏡(3)：電子顕微鏡を用いた様々な分析手法について学ぶ。 第８回　走査プローブ顕微鏡：AFM,STM,SNOM等の走査プローブ顕微鏡について学ぶ。 第９回　演習1 第１０回　分光分析(1)：電磁波と物質の相互作用について学ぶ。 第１１回　分光分析(2)：ランバートベールの法則、紫外可視スペクトルと吸光光度法について学ぶ。 第１２回　分光分析(3)：ランバートベールの法則や吸光度の加成性を利用した数値計算を学ぶ。 第１３回　分光分析(4)：フォトルミネッセンス、カソードルミネッセンス、光吸収測定、エリプソメトリー等の固体物性の測定手法について学ぶ。 第１４回　分光分析(5)：その他、最近のトピックスを含め紹介する。 第１５回　演習2

履修条件・関連項目

2年次4学期までに開講される物理化学、無機化学の講義内容を理解しているものとして講義を進める。 授業時間 30 時間に加え、配布した講義資料や参考書を参照し、本学の標準時間数に準ずる予習と復習を行うこと。

テキスト・教科書

適宜資料を配布します。また、Moodleシステムより、本科目で使用するPowerPointファイルを公開します。ただし、著作権の問題で本人の学習にのみ使用し、複製や配布を禁止します。

参考書

入門機器分析化学 庄野利之 他 編著 三共出版 その他、無機機器分析の広い範囲にわたるため、講義時間中に紹介する。

成績評価の方法

成績は平常点（10％）、課題レポート（10％）、及び学期末試験（全講義範囲、80％）から総合的に判断する。

教員から一言

機器分析化学は、現代の科学産業を支えている非常に大切な学問である。特に化学関連の企業等に就職した場合には最も身近に装置を触れる機会も多い。３年生までの化学の知識のみならず、物理の知識が重要である。

キーワード

X線回折、電子顕微鏡、分光分析法、機器分析

オフィスアワー

月曜日10：00〜15：00

備考１

備考２

参照ホームページ

開講言語

語学学習科目

更新日付

2020/01/06 20:33:59